? ? ? ?該系統為MCTS03的升級版本，其主要由極低/變溫控制子系統、分離式背景超導強磁場子系統、強電流加載控制子系統、機械力學加載控制子系統、非接觸多場環境下的宏/微觀變形測量子系統五個子系統組成。其中極低/變溫控制子系統采用GM制冷機進行低溫冷卻，實現無液氦制冷，分離式背景超導強磁場子系統采用液氦零蒸發制冷方式對磁體進行降溫。
產品特點
? ?可視化杜瓦，可實現室溫~4.2K變溫環境下光學測試根據測試；
? ?背景強磁場子系統能夠提供高達5T以上的背景強磁場（大型超導磁體提供）；
? ?強電流加載控制子系統采用大功率超導電源對測試樣品進行電流加載，最大可實現1000A的測試電流；
? ?非接觸式全場應變測量系統不與極低溫試樣及超導磁體接觸，不受強磁場、大電流及極低溫的影響和干擾，能夠高精度的測量待測試樣的三維或二維的全場測量；
產品參數
| 產品 | 極低溫-電磁-力材料多物理場測試系統 |
| 型號 | MCTS04 |
| 溫度范圍 | 室溫～4.2K（無液氦） |
| 控溫精度 | 0.05K |
| 試驗力分辨率 | 0.01N |
| 加載速率 | 0~1500m/min |
| 試樣尺寸 | 可定制 |
| 試樣載流 | 1000A |
| 彎曲測試 | 彎曲半徑1mm~150mm |
| 扭轉測試 | -360~360度，精度1度 |
| 背景磁場 | 0～5.5T（可定制，大型超導磁體提供背景場） |
| 變形測量 | 可視化全場測量（定制三維或二維） |
示意圖
