? ? ?該系統主要由極低/變溫控制子系統、背景強磁場子系統、強電流加載控制子系統、機械力學加載控制子系統、非接觸多場環境下的宏/微觀變形測量子系統五個子系統組成。其中極低/變溫控制子系統采用GM制冷機進行低溫冷卻，實現無液氦制冷，并通過傳導冷方式對杜瓦內的試樣機磁體進行降溫。

產品特點：

? ?可視化杜瓦，可實現室溫~4.2K變溫環境下光學測試根據測試；

? ?背景強磁場子系統能夠提供高達4T的背景強磁場（小型高溫超導）；

? ?強電流加載控制子系統采用大功率超導電源對測試樣品進行電流加載，最大可實現1000A的測試電流；

? ?非接觸式全場應變測量系統不與極低溫試樣及超導磁體接觸，不受強磁場、大電流及極低溫的影響和干擾，能夠高精度的測量待測試樣的三維或二維的全場測量；

產品參數：

示意圖